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电子组件振动试验台法
1、电子组件振动试验台法适用范围：本标准规定用以测定电子组件（以下简称组件）于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性，试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距，试验方法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。
2、电子组件振动试验台法装置：振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。
（1）振动波形及失真率：施加于供试品之振动波形为正弦波，供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为25%以下。
（2）振动振幅：规定振动方向之振幅容许差，须为规定值之±15%以内。
（3）与规定振动方向垂直之振动：于供试品安装位置，与规定振动方向垂直之振动，不论任何方向，其振幅应为规定方向之25%以下。
（4）振动频率容许差：50Hz以下就为±1Hz，超过50Hz时应为±2%。
（5）扫描（1）方法：原则是为对数扫描，但平均扫描亦可。
注：（1）1次扫描，例如10—55——10Hz，是指在规定振动频率范围作1次往复之频率变化。
3、电子组件振动试验台法准备
3．1 供试品之安装：将供试品依组件标准规定之方法，直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时，须能施加振动于组件标准规定之方向，且夹具应具足够机械强度，安装后亦不得松动或发生共振，组件标准应规定下列任一种安装方法。
（1） 固定组件本体（有导线之组件，亦同时固定导线）。
（2） 仅固定导线。
4、电子组件振动试验台法试验
4．1 前处理：原则上不作前处理。但有特别需要时，依组件标准之规定。
4．2 初期测定：依组件标准之规定施行，检查外观。
4．3 试验方法：依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时，于组件中应规定其允许值。
4．3．1 试验方法种类：试验方法分为Ⅰ（扫描耐久试验）、Ⅱ（共振点偏移检出试验）及Ⅲ（共振点耐久试验）
（1）试验方法Ⅰ（扫描耐久试验）：依组件标准之规定，照下表施行（参照图）。
振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同，合计6小时。
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振动种类
试验条件
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种类A
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种类B
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种类C
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振动频率范围
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10～55Hz
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100～500Hz
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10～2000Hz
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全振幅或加速度
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1．5mm
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1．5mm或98m/s2（10G）中较小者
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1．5mm或196m/s2（20G）中较小者
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扫描之比例
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10-55-10Hz
约1分钟
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10-500-10Hz约15分钟
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10-2000-10Hz约20分钟
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扫描方法
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对数扫描或平均扫描
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试验时间
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6小时
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