中广测帮助企业解决芯片存放过程中的失效问题

芯片作为现代信息技术的基石，被誉为“现代工业的粮食”，对于国家的经济发展和科技创新具有至关重要的作用。

国内某芯片企业发生产品存放后失效的问题，涉及数量庞大且失效持续发生，产品交付时间紧迫，若不能及时解决，企业将面临巨大损失。企业虽反复研究但未能解决，于是向中广测寻求帮助。

收到企业委托后，送检样本少、时间紧等因素加大了识别失效原因以及制定针对性解决方案的困难。中广测技术人员通过整理、分析不同存放时间和存放方法对芯片的失效影响，把问题聚焦到储存箱上，推测是储存箱中的某些物质发生迁移，导致芯片失效。

中广测技术人员设计了产品失效分析方案，通过对不同存放时间和造成不同失效程度的储存箱进行模拟实验，对可能迁移的物质进行富集采样，将检测数据与相关文献进行比对分析，终锁定了造成芯片失效的迁移物质。

企业根据中广测的分析结果和改进建议调整了芯片存放方式，成功解决了芯片失效问题。中广测凭借专业精湛的技术服务，赢得了企业的认可和赞誉。