日立UH4150AD+紫外可见近红外分光光度计

本次开发的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延续了作为光学元件的光谱特性检测设备UH4150 系列的基础上，提升了其在近红外区域光谱特性测量性能，成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。



特点：


具有紫外可见区8Abs、近红外区7Abs的测光范围

• 紫外可见区

紫外可见区UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，测光范围为８Abs。并且可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。

• 近红外区

在近红外区域安装了高灵敏度的 InGaAs 探测器。 直射光探测器通过安装集成放大器的探测器实现低噪声，并支持近红外区域7Abs的测光范围。



沿用备受好评的UH4150光学系统

在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。

对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束也可用于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定。

沿用备受好评的UH4150光学系统

在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。

对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束也可用于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定。


UH4150AD+增加的使用功能

• 数据模式 ：O.D.（Optical Density）展示
• 多扫描：根据不同的波长范围可进行扫描速度及减光板的设置
• 高分辨率测定：增加细分为4个阶段的高分辨率处理

（模式1）高分辨、中分辨、标准、低分辨

（模式2）ON和OFF (按照之前的处理)

• 减光板：能够自动插入5种规格的减光板
• 检测器校准：在基线校准时通过获取测定波长范围的0%T，

能够提高Abs数据的精度

• 高吸光度校准功能：针对测定数据波动的校准功能

（模式1）负透过率数据校准

（模式2）偏移校准




多功能扫描提高处理能力



由于滤光片包含了高透过率和低透过率的波长范围，使用者一直都是按照低透过率的扫描速度进行全部波长范围的扫描，所以花费时间较长。现在，通过新的多扫描功能，每次的测定可以根据不同的波长范围分别设定扫描速度等测试条件。之前需要15 min的检测通过多扫描功能只需要6.5 min就能完成，大大缩减了检测时间。