期间核查的设备、要求、考虑因素和核查方法

王中泰

期间核查的设备、要求、考虑因素和核查方法

1 、需要期间核查的测量设备

测量设备的期间核查仅针对 A 类和 B 类设备，目的是保持设备性能的可信度。 并不针对 C 类设备

2 、设备期间核查的基本要求

期间核查是测量设备校准或核查后对其测量功能和性能的核查， 其目的是为 了维持设备的性能和状态。

实验室可根据测量设备的稳定性、期间核查的成本、 风险、核查标准的可获得性、校准周期的长短等因素来确定进行期间核查设备的 范围及核查频次。

测量设备实验室应制定期间核查计划， 并针对具体的设备或计量参数的各自 特点 , 从经济性、实用性、可靠性、可行性等方面综合考虑制定具体的期间核查 作业指导书。

期间核查计划和记录统一归档保存。

3 、确认期间核查设备需要考虑的因素

a ）使用频繁；

b ）检定或校准周期较长（如 ≥2 年）；

c ）使用环境严酷或使用环境发生剧烈变化；

d ）使用过程中容易受损、数据易变或对数据存疑的；

e ）脱离实验室直接控制后返回的；

f ）稳定性差的设备；

g ）近几次连续校准数据趋势不良的设备。

4 、设备期间核查方法

a ）校准核查法实验室具有被核查测量设备校准用的标准仪器， 则可选常用的测量点对其进 行校准核查。当核查点的测量结果不超过测量设备的最大允许误差时， 则核查通 过。

b ）参考值核查法 采用参考值为 Xref ，

稳定性较好的核查标准（如标准样品） ，用被核查设备

对核查标准进行测量得到测量值为 Xlab ，被核查设备的最大允许误差为 δ , 若 Xlab - Xref < δ , 则核查通过。

c ）设备比对法如果实验室有准确度相当的同类 n （ n≥3 ）台（套） 测量设备， 可以采用设备 比对法。即用多台同类测量设备测量同一稳定样品，进行结果评价。